Dualscope FMP20兩用法涂鍍層測厚儀高性價比

Dualscope FMP20兩用法涂鍍層測厚儀高性價比

Dualscope FMP20：
由于自動基板材料識別和兩種測量方法的結合，該通用儀器能夠測量鐵/鋼和非鐵磁金屬以及非導電材料上的許多涂層。根據您的測量應用，您可以根據磁感應法，渦流法或根據兩種方法組合在一臺儀器中進行的涂層厚度測量。

Dualscope FMP20兩用法涂鍍層測厚儀高性價比

磁感應測量原理

采用磁感應原理時，利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀，原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時，儀器自動輸出測試電流或測試信號。早期的產品采用指針式表頭，測量感應電動勢的大小，儀器將該信號放大后來指示覆層厚度。近年來的電路設計引入穩頻、鎖相、溫度補償等地新技術，利用磁阻來調制測量信號。還采用設計的集成電路，引入微機，使測量精度和重現性有了大幅度的提高（幾乎達一個數量級）。現代的磁感應測厚儀，分辨率達到0.1um，允許誤差達1%，量程達10mm。

磁性原理測厚儀可應用來測量鋼鐵表面的油漆層，瓷、搪瓷防護層，塑料、橡膠覆層，包括鎳鉻在內的各種有色金屬電鍍層，以及化工石油待業的各種防腐涂層。

電渦流測量原理

高頻交流信號在測頭線圈中產生電磁場，測頭靠近導體時，就在其中形成渦流。測頭離導電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個反饋作用量表征了測頭與導電基體之間距離的大小，也就是導電基體上非導電覆層厚度的大小。由于這類測頭專門測量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱之為非磁性測頭。非磁性測頭采用高頻材料做線圈鐵芯，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應原理比較，主要區別是測頭不同，信號的頻率不同，信號的大小、標度關系不同。與磁感應測厚儀一樣，渦流測厚儀也達到了分辨率0.1um，允許誤差1%，量程10mm的高水平。

  采用電渦流原理的測厚儀，原則上對所有導電體上的非導電體覆層均可測量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導電性，通過校準同樣也可測量，但要求兩者的導電率之比至少相差3-5倍（如銅上鍍鉻）。雖然鋼鐵基體亦為導電體，但這類任務還是采用磁性原理測量較為合適。

Dualscope FMP20兩用法涂鍍層測厚儀高性價比

主要特點：
自動探頭識別
用于數據傳輸到PC的USB端口
大顯示器豐富的對比度 - 240x160像素
內存多達1000個讀數
測量采集時的聲音信號
顯示平均值，標準差，zui小值，zui大值和范圍
容易適應樣品的形狀
使用一個或兩個校準箔的附加校正校準
用于材料和幾何特性的特征設置的主校準
能夠將主校準存儲在連接的探頭中
測量單位可以在m和mil之間切換
可調節儀器關閉或連續操作
低電量指示
可鎖定鍵盤/限制操作模式
機械滑塊覆蓋測量操作不需要的鍵
各種語言設置